芯片输出特性的调整方法和装置
实质审查的生效
摘要
本申请实施例提供了一种芯片输出特性的调整方法和装置，在对待测芯片的输出特性进行调整时，先根据各电可编程熔丝的状态确定待测芯片的输出特性是否已经进行过调整，并在确定该待测芯片的输出特性未经过调整时，根据待测芯片的输出表现在多个调整方案中，有针对性地确定芯片对应的目标调整方案；并根据目标调整方案对待测芯片中的电可编程熔丝进行熔断处理，从而实现对待测芯片的输出特性进行调整，实现了在测试过程中对芯片的输出特性进行调整，以保证调整后的芯片的输出特性的一致性。
基本信息
专利标题 ：
芯片输出特性的调整方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114428204A
申请号 ：
CN202011186475.6
公开（公告）日 ：
2022-05-03
申请日 ：
2020-10-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈亮尹扬扬陈柏宏
申请人 ：
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 ：
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 ：
朱颖
优先权 ：
CN202011186475.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20201029
申请日 : 20201029
2022-05-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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