一种污点分析方法及装置
公开
摘要
本申请实施例涉及安全技术领域，公开一种污点分析方法及装置，用以提高污点分析技术的通用性。污点分析装置获取被测试对象中污染源的原始污染源信息；获得所述原始污染源信息对应的变异污染源信息组，所述变异污染源信息组包括根据所述原始污染源信息构造的至少一个变异污染源信息；获得污染目标信息，确定至少一个污染目标信息组；将所述变异污染源信息组与所述至少一个污染目标信息组进行匹配；确定所述被测试对象中的污染源与匹配的第一污染目标信息组对应的污染目标之间存在污染路径。由于通过变异污染源信息组和污染目标信息组进行匹配来实现污点分析，不依赖于线程模型，可以适用于多组件分布式架构和异步IO并发框架，因此具有通用性。
基本信息
专利标题 ：
一种污点分析方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114444076A
申请号 ：
CN202011195716.3
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2020-10-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
石岩
申请人 ：
华为云计算技术有限公司
申请人地址 ：
贵州省贵阳市贵安新区黔中大道交兴功路华为云数据中心
代理机构 ：
北京同达信恒知识产权代理有限公司
代理人 ：
邓灵
优先权 ：
CN202011195716.3
主分类号 ：
G06F21/56
IPC分类号 ：
G06F21/56 G06F21/57
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F21/00
防止未授权行为的保护计算机、其部件、程序或数据的安全装置
G06F21/50
监控用户、程序或设备，以维护平台完整。例如：处理器、固件或操作系统
G06F21/55
检测本地入侵或实施对策
G06F21/56
计算机恶意软件检测或处理，例如反病毒装置
法律状态
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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