试样分析方法及试样分析装置

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摘要

本发明提供一种试样分析方法，具备步骤：向标本照射光线、从所述标本中获取标本光学信息；通过分析所述标本光学信息计算出所述标本的吸光度，比较计算出的吸光度和临界值，以此分析所述标本中是否含有干扰物质以及干扰物质的种类和含量；将所述标本与试剂混合、调制分析用试样；以及向所述分析用试样照射光线，从分析用试样获取试样光学信息，并通过处理试样光学信息，对分析用试样进行分析，其中，在对分析用试样进行分析这一步骤中，根据所述标本中是否含有干扰物质以及干扰物质的种类和含量，选择适合分析用的光的波长，并对与选择的波长的光相应的试样光学信息进行处理，以此分析所述分析用试样。本发明还提供一种试样分析装置。

基本信息

专利标题：

试样分析方法及试样分析装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN102519887A

申请号：

CN201110290915.7

公开（公告）日：

2012-06-27

申请日：

2006-03-23

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

山本典正松尾直彦

申请人：

希森美康株式会社

申请人地址：

日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号

代理机构：

北京市安伦律师事务所

代理人：

刘良勇

优先权：

CN201110290915.7

主分类号：

G01N21/31

IPC分类号：

G01N21/31 G01N35/00