光谱分析试样的制备方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明属于制备测试用样品，特别是光谱分析测试用样品的方法。技术方案是：取一与被测试金属基本成分含量相近的金属材料作外套，把金属外套制成一端底面的内径与光谱分析仪火花室上口孔径之差大于1毫米。先将金属外套底面内径小的一端置于钢板或玻璃板上，再把待测小试样放在金属外套底面的中部，将Sn-Pb合金、Sn-Pb-Bi合金或Sn-Bi合金三者之一加热至熔化后注入金属外套中，然后冷却。
基本信息
专利标题 ：
光谱分析试样的制备方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1047389A
申请号 ：
CN89108989.6
公开（公告）日 ：
1990-11-28
申请日 ：
1989-11-30
授权号 ：
CN1017649B
授权日 ：
1992-07-29
发明人 ：
李文汉
申请人 ：
唐山钢铁公司
申请人地址 ：
063016河北省唐山市路北区滨河路
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN89108989.6
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N1/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
1996-01-10 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1993-05-05 ：
授权
1992-07-29 ：
审定
1991-08-14 ：
实质审查请求已生效的专利申请
1990-11-28 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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