试样分析方法及试样分析装置

发明专利申请公布后的驳回

摘要

一种标本分析的新方法，该方法在对标本进行分析前可以检测出所有干扰物质，包括以下步骤：向标本照射光线、从所述标本中获取光学信息的步骤；将所述标本与试剂混合、调制分析用试样的步骤；以及向所述分析用试样照射光线，从分析用试样获取光学信息，并通过处理标本光学信息，对分析用试样进行分析的步骤，其中，在对分析用试样进行分析这一步骤中，根据标本光学信息，设定与分析用试样相适应的分析条件。

基本信息

专利标题：

试样分析方法及试样分析装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101151521A

申请号：

CN200680010678.1

公开（公告）日：

2008-03-26

申请日：

2006-03-23

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

山本典正松尾直彦

申请人：

希森美康株式会社

申请人地址：

日本兵库县

代理机构：

北京金之桥知识产权代理有限公司

代理人：

梁朝玉

优先权：

CN200680010678.1

主分类号：

G01N21/78

IPC分类号：

G01N21/78 G01N33/483 G01N21/27 G01N35/02