用于对试样进行热分析的测量装置和方法

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摘要

本发明涉及用于对试样(P)进行热分析的测量装置，其具有坩埚(10)以及传感器(20)，坩埚用于使试样(P)支承在坩埚(10)中，传感器用于测量布置在传感器(20)上的坩埚(10)中的试样(P)的试样温度。为了降低由于化学或物理反应对使用的构件造成损害、甚至破坏的风险，根据本发明设置成，该测量装置还具有在坩埚(10)和传感器(20)之间加入的垫片组件(30)，其具有接触坩埚(10)的由第一材料构成的第一层(30‑1)和接触传感器(20)的由与第一材料不同的第二材料构成的第二层(30‑2)。此外，本发明提出在使用这种测量装置的情况下进行的用于对试样(P)进行热分析的方法。

基本信息

专利标题：

用于对试样进行热分析的测量装置和方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN110568008A

申请号：

CN201910454019.6

公开（公告）日：

2019-12-13

申请日：

2019-05-28

授权号：

CN110568008B

授权日：

2022-05-17

发明人：

A·辛德勒

申请人：

耐驰-仪器制造有限公司

申请人地址：

德国塞尔布

代理机构：

北京市路盛律师事务所

代理人：

张瑾

优先权：

CN201910454019.6

主分类号：

G01N25/20

IPC分类号：

G01N25/20