试样分析用基板、试样分析装置、试样分析系统和试样分析系统用程序

试样分析用基板、试样分析装置、试样分析系统和试样分析系统...

授权

摘要

一种试样分析用基板，通过旋转运动进行液体的移送，具备基板、第1保持室(101)、反应室(106)、第1开口和第2开口分别连接到第1保持室和反应室的第1流路(111)、主室(107)、第3开口和第4开口分别连接到反应室(106)和主室(107)的第2流路(112)、以及能够收纳磁石的磁石收纳室，第1开口位于比第2开口靠近旋转轴的一侧，第2开口位于比第3开口靠近旋转轴的一侧，在磁石收纳室收纳有磁石的情况下，磁石收纳室配置在能够通过磁石将主室中的磁性粒子捕捉到主室内的位置。

基本信息

专利标题：

试样分析用基板、试样分析装置、试样分析系统和试样分析系统用程序

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN108431610A

申请号：

CN201680076630.4

公开（公告）日：

2018-08-21

申请日：

2016-12-22

授权号：

CN108431610B

授权日：

2022-04-05

发明人：

冈本房俊城野政博

申请人：

普和希控股公司

申请人地址：

日本东京都

代理机构：

北京市中咨律师事务所

代理人：

段承恩

优先权：

CN201680076630.4

主分类号：

G01N35/00

IPC分类号：

G01N35/00 G01N33/543 G01N37/00