光谱仪分析试样精确定位装置
专利权的终止
摘要
一种光谱仪分析试样精确定位装置,其特征是该定位装置由两块透明材质制成的试样定位板构成,每块试样定位板表面标注有同样的水平和垂直的刻度线,在每块试样定位板的相同的位置设有多个和光谱仪不同直径的阳极相对应的小孔,在每块试样定位板的四角相同的位置设有可以穿过螺栓的圆孔。利用本实用新型可以方便地在试样分析面的反面且和待分析的试样点相对应处做上明显的标记,使其应用于用辉光光谱仪或火花直读光谱仪分析试样时对试样激发点进行精确定位。本实用新型主要用于辉光光谱仪对试样进行精确定位,满足小试样、异形试样和微小缺陷部位等的分析,还能用于辉光质谱仪、火花直读光谱仪、激光烧蚀ICP光谱仪、质谱仪等仪器。
基本信息
专利标题 :
光谱仪分析试样精确定位装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820066221.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-03-27
授权号 :
CN201177603Y
授权日 :
2009-01-07
发明人 :
余卫华张穗忠陈士华于录军高云代松苓
申请人 :
武汉钢铁(集团)公司
申请人地址 :
430083湖北省武汉市青山区厂前
代理机构 :
武汉开元专利代理有限责任公司
代理人 :
黄行军
优先权 :
CN200820066221.9
主分类号 :
G01N21/67
IPC分类号 :
G01N21/67 G01N21/25
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/66
电激发的,例如电发光
G01N21/67
利用电弧或放电
法律状态
2015-05-13 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101609856282
IPC(主分类) : G01N 21/67
专利号 : ZL2008200662219
申请日 : 20080327
授权公告日 : 20090107
终止日期 : 20140327
号牌文件序号 : 101609856282
IPC(主分类) : G01N 21/67
专利号 : ZL2008200662219
申请日 : 20080327
授权公告日 : 20090107
终止日期 : 20140327
2009-01-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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