粒子加速器元件准直测量的焊接型靶标座及其使用方法
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摘要

本发明涉及一种粒子加速器元件准直测量的焊接型靶标座及其使用方法,其特征在于,包括靶标座基体、永磁铁和卡簧;所述靶标座基体的下部周向开设有用于对所述靶标座基体与粒子加速器进行焊接后应力释放的应力释放槽;所述靶标座基体内开设有中心孔,所述中心孔内设置有用于磁吸激光跟踪仪靶球的永磁铁;位于所述永磁铁的上方,所述靶标座基体内开设有卡槽,所述卡槽内设置有用于卡设固定所述永磁铁的卡簧;位于所述卡槽上方的所述靶标座基体顶部均匀间隔开设有三个弧形凹槽,三所述弧形凹槽两两交汇处的凸台上设置有测量基准弧面,所述测量基准弧面用于测量过程中所述靶标座基体与激光跟踪仪靶球的配接,本发明可以广泛应用于准直测量技术领域中。

基本信息
专利标题 :
粒子加速器元件准直测量的焊接型靶标座及其使用方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112461509A
申请号 :
CN202011221800.8
公开(公告)日 :
2021-03-09
申请日 :
2020-11-05
授权号 :
CN112461509B
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
陈文军杨雅清蔡国柱王少明孙国珍袁建东张旭东
申请人 :
中国科学院近代物理研究所
申请人地址 :
甘肃省兰州市城关区南昌路509号
代理机构 :
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 :
王胥慧
优先权 :
CN202011221800.8
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02  G01B11/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-04-15 :
授权
2021-03-26 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20201105
2021-03-09 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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