一种高精度三维扫描系统
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种高精度三维扫描系统,包括XY移动平台及位于所述XY移动平台上的被测物体,所述被测物体的前方设置有位于Z轴移动平台上的大色差光学系统,所述大色差光学成像体统的前方设置有用于导入光源的光的照明光纤和采集被测物体反射光的扫描光纤,所述扫描光纤与光纤光谱仪连接,所述光纤光谱仪扫描物体反射光并判断其光谱,并传输至图像处理器。采用大孔径、大色差镜头的设计,实现物体高精度的三维扫描,精度可以达到um级,同时镜头通过Z轴方向的移动,配合不同色差的光来判断Z轴位置,减少了图像处理器计算的复杂度,能够保证一定的扫描速度。

基本信息
专利标题 :
一种高精度三维扫描系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114485459A
申请号 :
CN202011271509.1
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2020-11-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
吴博森吴身健梁伟
申请人 :
余姚市朗森光学科技有限公司
申请人地址 :
浙江省宁波市余姚市马渚镇云楼村
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202011271509.1
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/24
申请日 : 20201113
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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