测温装置
公开
摘要

本公开涉及一种测温装置,包括:检测线圈和补偿线圈分别被设置在待测导体同一位置的两侧,且与待测导体之间的距离相同;其中,检测线圈和补偿线圈通电后分别产生第一交流磁场和第二交流磁场,第二交流磁场不受感应电流的影响;检测电路用于检测检测线圈对应的第一阻抗,补偿电路用于检测补偿线圈对应的第二阻抗,测温模块用于根据在相同时间点测量到的第一阻抗和第二阻抗之间的差值确定待测导体的目标温度。通过设置该补偿线圈并测量该第二阻抗来对该检测线圈对应的第一阻抗进行修正的方式,不仅能够使得测量得到的待测导体的目标温度更加精确,而且能够适用于任意环境,更加具有普适性,更加简单易操作。

基本信息
专利标题 :
测温装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114577359A
申请号 :
CN202011298849.3
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2020-11-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
魏喜彤杨凯
申请人 :
比亚迪股份有限公司;中山比亚迪电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市坪山区比亚迪路3009号
代理机构 :
北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王晓霞
优先权 :
CN202011298849.3
主分类号 :
G01K7/36
IPC分类号 :
G01K7/36  G01K7/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01K
温度测量;热量测量;未列入其他类目的热敏元件
G01K7/08
被测物体本身构成热电材料之一,例如,尖端型的
G01K7/36
利用磁性元件,例如磁体、线圈
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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