本发明属于微波测试技术领域，公开了一种薄膜材料的多场耦合型微波性能测试平台。该平台包括测试夹具、夹具固定及xy轴移动基座、夹具高度调整基座、附加场部件高度可调基座、流体注入/流出孔道、电场输入探针机构、样品拉伸机构、亥姆霍兹线圈、亥姆霍兹线圈旋转结构。本发明装置中的磁场由亥姆霍兹线圈产生、电场由外部电源与探针提供、力场由机械夹臂结构提供、温度场由加热装置与液氮系统提供。本发明通过结合多个外场装置提供了薄膜材料在单一/复合外场条件下的微波性能测试平台，同时多个平台间相互独立，方便根据测试要求进行外场选择，薄膜材料也可以直接进行测试，无须进行传统的制样操作。