本公开公开了一种叶片检测方法和装置，涉及叶片检测验收领域。该方法包括：基于接触式探头获取叶片截面的叶型轮廓的第一测量数据，以及基于非接触式探头获取叶型轮廓的第二测量数据；将第一测量数据和第二测量数据，在叶片理论截面上进行投影，分别得到第一投影数据和第二投影数据；根据第一投影数据和第二投影数据，对叶型轮廓进行重构；以及对重构后的叶型轮廓进行评价分析，获取叶片截面的叶型测量值。本公开由于采用了三坐标接触式测量法和光学非接触式测量法相结合的两种测量方式，能够提高叶片截面检测的准确性。进而，可以与供应商提供的叶片检测结果进行比对，判断叶片供应商提供的叶片质量是否合格。