一种对位调整方法、装置及设备
公开
摘要

本发明公开一种对位调整方法、装置及设备,用于在硬件安装精度较低的条件下仍能够实现治具于产品的高精度对位。该方法包括:调整当前治具的位置,以使所述位置与COF产品具有固定位置关系;控制所述治具移动到初始位置,并根据预先获取的治具的移动偏移量,控制所述治具的各个pin针与所述COF产品的各个曝光点pad中心对准;所述初始位置为根据位于所述pad区域内且与所述pad中心未对齐的pin针位置确定的所述治具的位置;所述治具的各个pin针与所述各个pad的数量和分布规律相同;所述移动偏移量是通过显微镜获取的位于初始位置的所述治具的pin针,与对应的所述COF产品上所述pad上的标志点之间的偏差值确定的。

基本信息
专利标题 :
一种对位调整方法、装置及设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114563598A
申请号 :
CN202011353894.4
公开(公告)日 :
2022-05-31
申请日 :
2020-11-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
熊海军沈洪星张作军刘晏
申请人 :
合肥欣奕华智能机器股份有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市新站区龙子湖路与荆山路交口西南
代理机构 :
北京同达信恒知识产权代理有限公司
代理人 :
常晓
优先权 :
CN202011353894.4
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/54  G01R31/52  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2022-05-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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