样本分析设备及控制方法
公开
摘要
本申请实施例提供了一种样本分析设备及控制方法，其中，样本分析设备可以获取光强度探测器的传感数据，传感数据是光源发出的光照射到光强度探测器时，光强度探测器根据光照强度所生成的数据；当传感数据小于传感数据阈值时，控制加载装置对装载于装载台的样本架进行加载，以将样本架上的待测样本移送至样本检测区供检测装置进行检测，其中，传感数据阈值与样本架的漏光性相关联，漏光性用于表征样本架的漏光程度，由于传感数据阈值的设置与样本架的漏光性相关联，从而可以有效减小由于样板架的漏光性造成的光强度传感器所获取的传感数据误差，实现了样本分析设备试管架的自动加载功能的准确启动控制。
基本信息
专利标题 ：
样本分析设备及控制方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563585A
申请号 ：
CN202011364850.1
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2020-11-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘斌
申请人 ：
深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区高新技术产业园区科技南十二路迈瑞大厦1-4层
代理机构 ：
深圳市力道知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
贺小旺
优先权 ：
CN202011364850.1
主分类号 ：
G01N35/00
IPC分类号 ：
G01N35/00 G01N35/02 G01N35/04 G01N21/27
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N35/00
不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析；及材料的传送
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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