样本分析装置、样本检测设备及样本检测方法

授权

摘要

本发明提供一种样本分析装置，包括基板、检测单元和载物台，载物台上设置有第一检测通道及第二检测通道。本发明还提供一种样本检测设备及方法。本发明实施例通过设置并列的第一检测轨道和第二检测通道，在对一条检测轨道上的送检样本检测完毕之后，对另一条检测轨道上的送检样本进行检测，如果在先送检样本不需要复检，则可以继续对后续送检样本进行检测；如果在先样本需要复检，则可通过位移装置调整载物台和检测单元的相对位置以对在先样本进行复检。即保证了对送检的样本的连续检测，也不需要额外浪费工作量对等待检测结果的样本进行保存和整理，实现了方便快捷的对需要复检的样本进行复检。

基本信息

专利标题：

样本分析装置、样本检测设备及样本检测方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN109596852A

申请号：

CN201710939351.2

公开（公告）日：

2019-04-09

申请日：

2017-09-30

授权号：

CN109596852B

授权日：

2022-06-14

发明人：

丁建文

申请人：

爱威科技股份有限公司

申请人地址：

湖南省长沙市高新开发区文轩路27号麓谷钰园B6栋

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司

代理人：

黄晓庆

优先权：

CN201710939351.2

主分类号：

G01N35/04

IPC分类号：

G01N35/04