样本分析仪、光学检测装置
授权
摘要
本实用新型提供一种样本分析仪、光学检测装置，该光学检测装置包括光学基板，光源基板在B方向上可滑动性调节设置于光学基板上，其中，光源基板或光学基板设有凸出式设置的滑动配合部以在进行滑动性调节时减小摩擦力。
基本信息
专利标题 ：
样本分析仪、光学检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922141459.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-30
授权号 ：
CN212364325U
授权日 ：
2021-01-15
发明人 ：
于记良
申请人 ：
深圳市帝迈生物技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区桃源街道留仙大道4093号南山云谷创新产业园南风楼2楼B
代理机构 ：
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
唐双
优先权 ：
CN201922141459.4
主分类号 ：
G01N35/00
IPC分类号 ：
G01N35/00 G01N21/64 G01N21/01
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N35/00
不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析；及材料的传送
法律状态
2021-01-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN212364325U.PDF
PDF下载
