超导量子比特频率的校准方法以及装置、可读存储介质
公开
摘要
本发明公开了一种超导量子比特频率的校准方法以及装置、可读存储介质，对超导量子比特施加微波信号，并获取初始振荡频率，然后通过初始振荡频率与第一频率的差值判断出超导量子比特频率是否发生漂移，在超导量子比特频率发生漂移时，调整施加在超导量子比特上的第一电压的大小来使得振荡频率不断逼近第一频率，直到初始振荡频率与第一频率的差值满足收敛条件。通过调整所述第一电压的大小来使得振荡频率不断逼近第一频率，可以将超导量子比特频率调回到预定的数值也即使得我们选定的超导量子比特回到工作点，从而实现了对已发生漂移的超导量子比特频率的自动校准。
基本信息
专利标题 ：
超导量子比特频率的校准方法以及装置、可读存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114594306A
申请号 ：
CN202011414104.9
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2020-12-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
石汉卿孔伟成
申请人 ：
合肥本源量子计算科技有限责任公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼六层
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202011414104.9
主分类号 ：
G01R23/02
IPC分类号 ：
G01R23/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R23/00
测量频率的装置；频谱分析装置
G01R23/02
频率测量装置，如脉冲重复率的测量；电流或电压周期的测量装置
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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