一种提高天线口盖成型精度的方法
公开
摘要
本发明涉及一种提高天线口盖成型精度的方法，技术特征在于，包括以下步骤，利用曲面测量仪测量天线口盖实物的外形曲面，得到天线口盖的测量点云数据。通过天线口盖测量点云测量与天线口盖的设计曲面进行匹配，计算出两者之间的偏差，以此偏差值为变形量，在天线口盖成型模具设计时对模具型面做相应的修正，进而快速制造出高精度的天线口盖。本发明通过变形规律及各点的变形计算对天线口盖成型模具型面进行修正，提高了天线口盖成型精度。相比于常规试模修模方法，减少了试模、修模次数及模具设计时间，提高了材料利用，显著降低天线口盖制造成本。
基本信息
专利标题 ：
一种提高天线口盖成型精度的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114628894A
申请号 ：
CN202011432440.6
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2020-12-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
汪文庆
申请人 ：
湖北纳克复合材料有限公司
申请人地址 ：
湖北省孝感市孝汉大道南侧银湖科技园9幢1单元1楼101
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202011432440.6
主分类号 ：
H01Q1/42
IPC分类号 ：
H01Q1/42
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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