一种过欠压检测电路
公开
摘要
本发明提供一种过欠压检测电路，所述过欠压检测电路包括：一待检测芯片，所述待检测芯片具有一电压检测引脚；电流支路，设于所述待检测芯片的内部并与所述电压检测引脚连接，用于在所述电压检测引脚处提供一不为零的电流；电阻支路，设于所述待检测芯片的外部并与所述电压检测引脚连接，用于在所述电流支路的作用下，设定过压保护点和欠压保护点，同时调节两者的比例，从而实现对所述待检测芯片的过压保护和欠压保护。通过本发明提供的过欠压检测电路，解决了现有检测电路因U1OVP和U1UVP的比例固定而导致应用受限的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种过欠压检测电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609432A
申请号 ：
CN202011443246.8
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2020-12-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
盛欢李亮林昌全吴泉清萧硕
申请人 ：
华润微集成电路（无锡）有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市无锡太湖国际科技园菱湖大道180号-6
代理机构 ：
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
林丽丽
优先权 ：
CN202011443246.8
主分类号 ：
G01R19/165
IPC分类号 ：
G01R19/165
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R19/00
用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置
G01R19/165
指示电流或电压高于或低于预定值，或者是处于预定的数值范围之内或之外
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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