一种确定泥页岩有机质丰度风化校正系数的方法
公开
摘要
本发明提供一种确定泥页岩有机质丰度风化校正系数的方法，包括：步骤1，选取重点层段剖面，并对新鲜剖面或浅钻孔系统取样；步骤2，进行无机元素化合物与TOC分析；步骤3，计算CIA、CIW这些风化程度参数；步骤4，确定未风化样品TOC值；步骤5，计算各样品TOC校正因子；步骤6，分析风化参数与校正因子的相关性；步骤7，建立风化程度TOC校正量化模型。该确定泥页岩有机质丰度风化校正系数的方法可客观评价不同程度风化作用对于有机质丰度的影响程度；以无机元素迁移和化合物组成变化特征为核心，创新性建立了不同程度风化作用下有机质丰度定量校正模型。
基本信息
专利标题 ：
一种确定泥页岩有机质丰度风化校正系数的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624270A
申请号 ：
CN202011463474.1
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2020-12-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郭瑞超李军亮曾治平武向峰刘俊民付仲欣周涛刘慧王超周惠莲
申请人 ：
中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司胜利油田分公司勘探开发研究院
申请人地址 ：
山东省东营市东营区济南路125号
代理机构 ：
济南日新专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
崔晓艳
优先权 ：
CN202011463474.1
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223 G01N1/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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