充电检测方法、装置及设备
公开
摘要
本公开涉及电子设备技术领域，具体提供了一种充电检测方法、装置及设备。充电检测方法包括：在充电检测设备的多个电源适配器中确定目标适配器；每个电源适配器与电子设备的充电路径上均设有晶体管开关；控制目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通，且其他电源适配器的充电路径上的晶体管开关断开；获取目标适配器充电时的充电检测信息，响应于充电检测信息验证通过，在其他电源适配器中重新确定目标适配器，直至多个电源适配器中的每一个电源适配器的充电检测信息均验证通过。本公开方案的充电电路阻抗小、且阻抗一致性好，充电检测误差小。
基本信息
专利标题 ：
充电检测方法、装置及设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624524A
申请号 ：
CN202011475328.0
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2020-12-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
梁磊
申请人 ：
北京小米移动软件有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区西二旗中路33号院6号楼8层018号
代理机构 ：
北京博思佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
王茹
优先权 ：
CN202011475328.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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