一种控制CCOS修形边缘误差效应的方法
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摘要

本发明提供一种控制CCOS修形边缘误差效应的方法,包括如下步骤:S1、测量目标工件的面形;S2、确定目标工件表面的材料去除量,根据目标工件的面形情况选择加工方式和与加工方式对应的去除函数,然后进行CCOS修形;若工件面形为翘边,则选择自转抛光方式和预先确定的自转抛光去除函数,否则选择双转子抛光方式和预先确定的双转子抛光去除函数;S3、测量目标工件的面形,若不满足要求,跳转步骤S2以进行迭代加工,否则结束加工。本发明所用设备简单,容易搭建,成本较低,具有对低、中、高精度的工件表面修形的能力,无需辗转于各加工设备,避免了因更换设备引起的误差,不仅有良好的修形能力,还能降低工件表面的粗糙度。

基本信息
专利标题 :
一种控制CCOS修形边缘误差效应的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112658811A
申请号 :
CN202011504628.7
公开(公告)日 :
2021-04-16
申请日 :
2020-12-18
授权号 :
CN112658811B
授权日 :
2022-05-24
发明人 :
胡皓尹联民戴一帆关朝亮
申请人 :
中国人民解放军国防科技大学
申请人地址 :
湖南省长沙市开福区砚瓦池正街47号
代理机构 :
湖南兆弘专利事务所(普通合伙)
代理人 :
朱伟雄
优先权 :
CN202011504628.7
主分类号 :
B24B1/00
IPC分类号 :
B24B1/00  B24B13/00  B24B49/12  G06F17/15  
IPC结构图谱
B
B部——作业;运输
B24
磨削;抛光
B24B
用于磨削或抛光的机床、装置或工艺(用电蚀入B23H;磨料或有关喷射入B24C;电解浸蚀或电解抛光入C25F3/00;磨具磨损表面的修理或调节;磨削,抛光剂或研磨剂的进给
B24B1/00
磨削或抛光的工艺;与此工艺有关的所用辅助设备
法律状态
2022-05-24 :
授权
2021-11-12 :
专利申请权、专利权的转移
专利申请权的转移IPC(主分类) : B24B 1/00
登记生效日 : 20211102
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 中国人民解放军国防科技大学
变更后权利人 : 湖南省产业技术协同创新研究院
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 410073 湖南省长沙市开福区砚瓦池正街47号
变更后权利人 : 410031 湖南省长沙市岳麓区岳麓大道233号湖南科技大厦
2021-05-04 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : B24B 1/00
申请日 : 20201218
2021-04-16 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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