一种ADC误差修调方法、系统及误差修调装置
公开
摘要
一种ADC误差修调方法、系统及误差修调装置，ADC误差修调方法，包括以下步骤：获取修调数据，修调数据包括M个不同的预选修调参数组，每个预选修调参数组皆包括增益误差修调值和偏移误差修调值；依次基于M个预选修调参数组对N个电压点的采样结果进行修调，以得到M组修调结果；基于M组修调结果一一对应计算M个误差参数组；根据ADC理想传输函数和M个误差参数组，从M个不同的预选修调参数组中确定修调终值参数组，修调终值参数组包括增益修调终值和偏移修调终值；根据修调终值参数组对ADC增益误差和偏移误差进行修调。通过上述ADC误差修调方法解决了ADC传输特性曲线的增益误差和偏移误差的修调精确度低的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种ADC误差修调方法、系统及误差修调装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114614820A
申请号 ：
CN202210274579.5
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
蔡尹黄嵩人易峰刘律辑
申请人 ：
湖南进芯电子科技有限公司
申请人地址 ：
湖南省长沙市长沙高新开发区尖山路39号长沙中电软件园总部大楼10楼1002-1010室
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
王浩
优先权 ：
CN202210274579.5
主分类号 ：
H03M1/10
IPC分类号 ：
H03M1/10
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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