一种红外接收芯片测试修调系统
授权
摘要
本实用新型提供一种红外接收芯片测试修调系统，包括测试机、红外发光二极管和探针卡，所述测试机分别连接红外发光二极管和探针卡，待测的红外接收芯片放在探针卡上，所述红外接收芯片具有多个修调管脚，相邻的两个修调管脚之间接有二极管，还包括修调电路，所述修调电路包括多个模拟修调开关和多个实际修调开关，所述红外接收芯片中相邻的两个修调管脚分别连接一个模拟修调开关的两端，且分别经两个同步开闭的实际修调开关连接外部电源的正负两极，所述两个同步开闭的实际修调开关闭合则接通所述外部电源把对应两个修调管脚之间的二极管击穿。本系统可在测试出劣品红外接收芯片后，通过修调电路将劣品红外接收芯片的中频修调至标准值。
基本信息
专利标题 ：
一种红外接收芯片测试修调系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921249251.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-31
授权号 ：
CN210516674U
授权日 ：
2020-05-12
发明人 ：
杨柳岑栋谢刚刚袁俊张亦锋
申请人 ：
广东利扬芯片测试股份有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市万江区莫屋社区莫屋新村工业区
代理机构 ：
东莞市华南专利商标事务所有限公司
代理人 ：
刘克宽
优先权 ：
CN201921249251.8
主分类号 ：
H01L21/66
IPC分类号 ：
H01L21/66
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/66
在制造或处理过程中的测试或测量
法律状态
2020-05-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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