一种PLC平面光波导分路器性能检测装置

授权

摘要

一种PLC平面光波导分路器性能检测装置，解决了测试PLC平面光波导分路器只能一个一个检测，测试效率低，测试精确度差的问题，其包括设备箱，所述设备箱的一侧中心处嵌入安装有控制板，控制板的内部安装有第一定时器和第二定时器，设备箱的顶部通过螺栓固定有检测箱，检测箱的一侧通过铰链固定有箱门，检测箱的底部开设有进风口，进风口内卡接固定有散流板，进风口的底部连接有进风主管，设备箱的内部安装有制冷机构和制热机构，制冷机构的出风口通过第一风管与进风主管连接。本实用新型结构新颖，构思巧妙，使用方便，可以依次测试多个PLC平面光波导分路器，有效的提升了测试精度和测试效率。

基本信息

专利标题：

一种PLC平面光波导分路器性能检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020011282.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-01-02

授权号：

CN211234919U

授权日：

2020-08-11

发明人：

颜惠琴严勇崔凤娟

申请人：

无锡职业技术学院

申请人地址：

江苏省无锡市高浪西路1600号

代理机构：

无锡华源专利商标事务所(普通合伙)

代理人：

孙建

优先权：

CN202020011282.6

主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

G01M11/02