一种非晶合金环形试样磁性能测量样品台
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摘要
本实用新型涉及非晶合金的磁性能测量技术领域，尤其涉及一种非晶合金环形试样磁性能测量样品台，包括平台底座，所述平台底座上设置有供待测试样品滑移的传输槽，所述传输槽的一端设置有升降装置，所述升降装置上设置有升降杆，所述升降杆上固定连接有航空插头，所述平台底座靠近所述升降装置的一端设置有探测待测样品的红外线探头，所述平台底座靠近所述升降装置的一端固定连接有固定支撑架，所述固定支撑架远离所述平台底座的一端固定连接有航空插座，所述航空插座对应所述航空插头设置，所述航空插头和所述航空插座内均设置有测量磁性能的线圈，上述测量工作使用机器自动对样品测量，可以有效提高测量效率。
基本信息
专利标题 ：
一种非晶合金环形试样磁性能测量样品台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020023018.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-07
授权号 ：
CN212460013U
授权日 ：
2021-02-02
发明人 ：
董威威王书光杜天星胡柳亮虞璐张琴程笑飞
申请人 ：
浙江兆晶电气科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省宁波市慈溪市新兴产业集群区宗汉街道新兴大道88号
代理机构 ：
成都明涛智创专利代理有限公司
代理人 ：
丁国勇
优先权 ：
CN202020023018.4
主分类号 ：
G01R33/12
IPC分类号 ：
G01R33/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/12
测量物品的磁性或者固体或流体样品的磁性
法律状态
2021-02-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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