电子设备跌落测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种电子设备跌落测试装置，包括底座，底座的上侧固定安装有支撑板，支撑板的上侧固定安装有顶板，顶板的内部开设有第一凹槽，顶板的上侧固定安装有第一电机，第一电机的外侧固定安装有电机支架，第一电机的输出端固定安装有第一齿轮，第一齿轮通过链条传动连接有第二齿轮。本实用新型通过第一电机带动第一齿轮转动，第一齿轮通过链条带动第二齿轮转动，第一齿轮和第二齿轮均带动其下侧固定连接的两个第一螺纹杆同步转动，第一螺纹杆带动其表面螺纹连接的第一移动座及第一连接块向上移动，两个第一连接块带动固定板向上移动，实现了电子设备跌落测试高度的调节，满足不同高度的跌落测试，提升了该跌落测试装置的实用性。
基本信息
专利标题 ：
电子设备跌落测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020035516.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-08
授权号 ：
CN211121879U
授权日 ：
2020-07-28
发明人 ：
王德发田艳艳
申请人 ：
深圳市贝德技术检测有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道后瑞第三工业区E栋6楼南面
代理机构 ：
深圳市创富知识产权代理有限公司
代理人 ：
涂柳晓
优先权 ：
CN202020035516.0
主分类号 ：
G01M7/08
IPC分类号 ：
G01M7/08 B25B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M7/08
•冲击测试
法律状态
2020-07-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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