一种XRD检测用样品气氛保护装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种XRD检测用样品气氛保护装置，属于X射线衍射分析领域。该装置包括保护罩、试样板、样品托、相互配合的轴和轴承、底板、转动手柄、密封圈、紧固螺钉和磁铁；轴贯穿并固定安装在底板上，轴承安装在轴上，样品托放置到轴承上，试样板固定在样品托上，样品托的底部设置磁铁；保护罩上设置窗口，保护罩与底板之间通过密封圈和紧固螺钉连接，将试样板和样品托等密封在内部；转动手柄上设置用于轴插入的轴孔，转动手柄上设置磁铁。本实用新型装置设计紧凑，气密性好，可有效的保护材料，隔离空气，可同时安装4个样品，效率较高，实用性强。
基本信息
专利标题 ：
一种XRD检测用样品气氛保护装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020082539.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-15
授权号 ：
CN211785229U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
王书明张华王梦圆
申请人 ：
国标（北京）检验认证有限公司
申请人地址 ：
北京市怀柔区雁栖经济开发区兴科东大街11号
代理机构 ：
北京北新智诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘徐红
优先权 ：
CN202020082539.7
主分类号 ：
G01N23/20008
IPC分类号 ：
G01N23/20008
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构，例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统；其配件；样品制备
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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