一种XRD用带气氛保护装置的全自动样品台
授权
摘要

本实用新型涉及XRD样品台装置技术领域,提供了一种XRD用带气氛保护装置的全自动样品台,包括样品盘、密封机构、电机和底座结构;样品盘为圆盘状,沿样品盘的外周设置多个用于放置样品的样品槽;密封机构用于为样品提供密封;电机设置在样品盘底部,样品盘能在电机驱动下绕圆盘中心旋转;电机固定连接在底座结构上,底座结构优选为可升降机构。本实用新型方便安装和拆卸保护罩,硅脂层可以使得保护罩密封性更好,最大程度上避免样品出现氧化吸湿等现象;通过膨胀螺丝与弹减震簧相互配合使得样品台可以在桌面上固定的更加稳定;液压推杆的设计,可以使样品台能方便地在高度方向上进行调整;结构简单新颖,应用前景广。

基本信息
专利标题 :
一种XRD用带气氛保护装置的全自动样品台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022471344.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-30
授权号 :
CN213875489U
授权日 :
2021-08-03
发明人 :
刘强程慧静李想陆阳左晓剑杜申
申请人 :
北京科技大学
申请人地址 :
北京市海淀区学院路30号
代理机构 :
北京金智普华知识产权代理有限公司
代理人 :
皋吉甫
优先权 :
CN202022471344.4
主分类号 :
G01N23/20025
IPC分类号 :
G01N23/20025  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2021-08-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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