一种基于多曝光成像的成衣印花缺陷检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于多曝光成像的成衣印花缺陷检测设备，成衣印花缺陷检测设备的设备外壳上设有一操作区，操作区内设有一缺陷检测结果显示区域，缺陷检测结果显示区域的上方位置处设有一采图按钮，采图按钮用于提供给用户按下后采集待检测的印花样本的曝光图以及采集合格的印花成品的曝光模板图；采图按钮的右侧位置处设有一检测按钮，检测按钮用于提供给用户按下后对所采集的曝光图进行印花缺陷检测，并将印花缺陷检测结果在缺陷检测结果显示区域上显示；缺陷检测结果显示区域的右侧位置处设有一检测状态显示区域，用于将印花缺陷检测的检测状态显示给所述用户，本实用新型实现了对印花缺陷检测的全自动化。
基本信息
专利标题 ：
一种基于多曝光成像的成衣印花缺陷检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020089590.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-16
授权号 ：
CN211044323U
授权日 ：
2020-07-17
发明人 ：
张发恩郭勅君
申请人 ：
创新奇智（合肥）科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新区习友路3333号中国（合肥）国际智能语音产业园研发中心611-64室楼
代理机构 ：
广州鼎贤知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘莉梅
优先权 ：
CN202020089590.0
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T5/50 G06T7/12 G06T5/00 G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2020-07-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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