缺陷检测方法、装置、光学成像系统、设备及存储介质

授权

摘要

本发明公开了一种缺陷检测方法、装置、光学成像系统、设备及存储介质，涉及玻璃盖板缺陷检测技术领域，解决了现有技术中电子产品的玻璃盖板检测行业的AOI设备不够成熟，无法有效检测玻璃盖板的黑斑缺陷的技术问题。该方法包括：获取红外光源对待检测的玻璃盖板照射得到的玻璃盖板的反射光图像；对反射光图像进行背景均匀化和缺陷增强处理，以增大反射光图像中背景和缺陷的对比度的差值；在进行背景均匀化和缺陷增强处理后的图像中提取缺陷区域；根据缺陷区域的图像特征判断缺陷区域的缺陷是否为黑斑缺陷。

基本信息

专利标题：

缺陷检测方法、装置、光学成像系统、设备及存储介质

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113984791A

申请号：

CN202111616712.2

公开（公告）日：

2022-01-28

申请日：

2021-12-28

授权号：

CN113984791B

授权日：

2022-04-08

发明人：

李谭军

申请人：

蓝思科技股份有限公司

申请人地址：

湖南省长沙市浏阳市生物医药园蓝思科技股份有限公司

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司

代理人：

任洁芳

优先权：

CN202111616712.2

主分类号：

G01N21/958

IPC分类号：

G01N21/958 G06T7/00