全温区原位XRD电池测试盒
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摘要

本发明涉及了一种全温区原位XRD电池测试盒,包括底座、半导体制冷片、电池座、上盖和热电偶;底座的顶部设有凹槽I,半导体制冷片冷端向上嵌入凹槽I中,半导体制冷片用于与温控仪相连;上盖的底部设有凹槽II,凹槽II的顶部设有衍射孔I;电池座上设有衍射孔II,电池座固定在凹槽II的顶部,且衍射孔II与凹槽II顶部的衍射孔I重合,电池座用于与电池充放电仪相连;底座和上盖方便拆卸地扣合在一起,底座的凹槽I与上盖的凹槽II形成闭合的空腔,热电偶固定在空腔中,热电偶用于与温控仪相连。采用本技术方案,可精确调整待测试电池所处的空腔内的温度,进而探究电池在全温区内任意温度区间的充放电。

基本信息
专利标题 :
全温区原位XRD电池测试盒
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020091734.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-16
授权号 :
CN211505282U
授权日 :
2020-09-15
发明人 :
王钰汝刘瑞
申请人 :
山东科技大学
申请人地址 :
山东省青岛市经济技术开发区南湾港路579号
代理机构 :
济南泉城专利商标事务所
代理人 :
张贵宾
优先权 :
CN202020091734.6
主分类号 :
G01N23/20033
IPC分类号 :
G01N23/20033  G01N23/207  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
G01N23/20033
具有温度控制或加热装置
法律状态
2020-09-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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