接近检测设备
授权
摘要
本公开的实施例涉及接近检测设备。本公开涉及接近检测设备。接近检测设备包括一个或多个光电检测器以及读出电路，读出电路被配置为贯穿检测时段以规则的间隔对来自一个或多个光电检测器的一个或多个输出信号进行采样。接近检测设备包括脉冲传输电路，脉冲传输电路被配置为将具有第一脉冲持续时间的第一光学脉冲和具有第二脉冲持续时间的第二光学脉冲传输到场景中，第二脉冲持续时间比第一脉冲持续时间长至少百分之五十。利用该接近检测设备，通过在每个检测时段期间使用不同脉冲持续时间的光学脉冲，可以以良好的精度检测在相对短和相对长的范围内的对象。
基本信息
专利标题 ：
接近检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020097006.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-16
授权号 ：
CN211928162U
授权日 ：
2020-11-13
发明人 ：
P·梅洛特
申请人 ：
意法半导体（格勒诺布尔2）公司
申请人地址 ：
法国格勒诺布尔
代理机构 ：
北京市金杜律师事务所
代理人 ：
王茂华
优先权 ：
CN202020097006.6
主分类号 ：
G01S7/48
IPC分类号 ：
G01S7/48 G01S17/89
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S7/00
与G01S13/00，G01S15/00，G01S17/00各组相关的系统的零部件
G01S7/48
与G01S17/00组相应的系统的
法律状态
2020-11-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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