一种纠正卤素检漏仪数据偏差的装置及系统
授权
摘要

本实用新型涉及气体检漏仪技术领域,公开了一种纠正卤素检漏仪数据偏差的装置及系统。所述卤素检漏仪采用高频磁场低压电离原理,纠正卤素检漏仪数据偏差的装置包括:壳体,所述壳体设有用于气体流通的腔室,所述腔室的出气口用于与所述卤素检漏仪连接;除湿组件,用于去除进入所述腔室的卤素气体中的水分。通过在卤素检漏仪的前端设置纠正卤素检漏仪数据偏差的装置,对进入卤素检漏仪中的气体进行去水分,以解决卤素检漏仪数据产生偏差的问题。

基本信息
专利标题 :
一种纠正卤素检漏仪数据偏差的装置及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020104608.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-17
授权号 :
CN211234859U
授权日 :
2020-08-11
发明人 :
金学江
申请人 :
上海科石科技发展有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区康意路499号2幢A座5623室
代理机构 :
上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
董磊
优先权 :
CN202020104608.X
主分类号 :
G01M3/20
IPC分类号 :
G01M3/20  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M3/00
结构部件的流体密封性的测试
G01M3/02
应用流体或真空
G01M3/04
通过在漏泄点检测流体的出现
G01M3/20
应用特殊示踪物质,例如染料、荧光材料、放射性材料
法律状态
2020-08-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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