一种断层双体结构相对滑动的位移监测装置
授权
摘要
本发明涉及一种断层双体结构相对滑动的位移监测装置，包括标记染料、透镜组合、双色滤光片、感光屏、支护装置。所述的各个部分按照透镜组合、滤光片、感光屏的顺序在装置外壳中依次排列。本发明的有益效果是利用光敏元件对特定光的感光性，实现对断层表面的标记点相对位置的监测，进而求得断层上下盘相对滑动位移。
基本信息
专利标题 ：
一种断层双体结构相对滑动的位移监测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020105385.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-17
授权号 ：
CN211696253U
授权日 ：
2020-10-16
发明人 ：
王宏伟李孙飚
申请人 ：
中国矿业大学（北京）
申请人地址 ：
北京市海淀区学院路丁11号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020105385.9
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-10-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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