一种声波探测装置
授权
摘要

本实用新型提供了一种声波探测装置,解决现有传感器结构批量生产组装繁杂、一致性差的技术问题。包括:固定腔体,用于与振动腔体适配连接形成光学腔室,并形成光通道和泄压孔径。振动腔体,用于与所述固定腔体适配连接形成所述光学腔室,并形成振动局部,在所述振动局部中形成与所述光通道共轴的光反射面。利用光反射面所处振动局部形成光学谐振腔长变化。谐振腔具有超薄敏感结构,省略了成组光纤共轴对位的调试成本的同时带来了较高的探测精度。利用成熟的集成手段和加工工艺可以进一步降低组装生产成本、提供良品率,适合大批量生产。同时利用成熟加工工艺可以针对声波探测环境形成具有环境适应性的外形轮廓。

基本信息
专利标题 :
一种声波探测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020111381.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-17
授权号 :
CN211317591U
授权日 :
2020-08-21
发明人 :
解涛杨志王文军胥超董春晖韩易
申请人 :
北京麦特达电子技术开发有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区玉渊潭南路普惠南里综合楼三层
代理机构 :
北京天方智力知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张廷利
优先权 :
CN202020111381.1
主分类号 :
G01L1/24
IPC分类号 :
G01L1/24  G01L1/25  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01L
测量力、应力、转矩、功、机械功率、机械效率或流体压力
G01L1/00
力或应力的一般计量
G01L1/24
通过测量材料受应力时其光学性质的变化,例如,应用光弹性应力分析
法律状态
2020-08-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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