一种扫描排错设备
授权
摘要
本申请适用于工业生产自动化技术领域,提供了一种扫描排错设备,扫描设备包括光梳测距组件和扫描控制组件,光梳测距组件包括:激光发生器、第一分束镜、第二分束镜、反射镜和光电探测器,激光发生器产生信号光和本振光,信号光入射第一分束镜,本振光入射第二分束镜,信号光经过第一分束镜后,反射的部分成为参考光,透射的部分成为测量光,反射镜垂直参考光且设置于参考光的光路上,参考光经反射镜反射后,与被工件反射的测量光以及本振光合束并被光电探测器接收。光梳测距组件基于双光梳干涉原理,通过该工件表面对应位置的表面与光梳测距组件的距离差,能够获知工件是否安装的信息和工件是否存在安装异常的信息。
基本信息
专利标题 :
一种扫描排错设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020146360.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-22
授权号 :
CN211452374U
授权日 :
2020-09-08
发明人 :
张少林张万祯周秋玲
申请人 :
深圳市威富视界有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区西乡街道桃源社区航城工业区展丰工业园B1栋5层
代理机构 :
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 :
袁哲
优先权 :
CN202020146360.3
主分类号 :
G01D5/30
IPC分类号 :
G01D5/30
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01D
非专用于特定变量的测量;不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置;计费设备;非专用于特定变量的传输或转换装置;未列入其他类目的测量或测试
G01D5/00
用于传递传感构件的输出的机械装置;将传感构件的输出变换成不同变量的装置,其中传感构件的形式和特性不限制变换装置;非专用于特定变量的变换器
G01D5/26
采用光学装置,即应用红外光、可见光或紫外光
G01D5/28
利用光束的偏转,例如直接的光指示
G01D5/30
利用光电元件检测光束
法律状态
2020-09-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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