一种光纤气体探测器
专利权的终止
摘要
本实用新型涉及一种光纤气体探测器，该光纤气体探测器包括光源、探测器、光纤、第一贵金属颗粒层、金属氧化物薄膜，光纤连接光源和探测器，在光纤纤芯上抛磨有平面，在平面上设有第一贵金属颗粒层，在第一贵金属颗粒层上设有金属氧化物薄膜。在氧气和待检测气体中，金属氧化物薄膜中电子浓度不同，从而导致金属氧化物薄膜的折射率不同；金属氧化物薄膜折射率的不同将改变第一贵金属颗粒的共振波长，从而改变光纤的透射光谱；根据光纤的透射光谱可以判断待检测气体的浓度。本光纤气体探测器具有探测灵敏度高、尺寸小等优点。
基本信息
专利标题 ：
一种光纤气体探测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020159480.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-10
授权号 ：
CN211877768U
授权日 ：
2020-11-06
发明人 ：
李秋王德丰张中侠
申请人 ：
吉林工程技术师范学院
申请人地址 ：
吉林省长春市凯旋路3050号
代理机构 ：
北京艾皮专利代理有限公司
代理人 ：
马小辉
优先权 ：
CN202020159480.7
主分类号 ：
G01N21/59
IPC分类号 ：
G01N21/59 G01N21/41
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/59
透射率
法律状态
2022-01-18 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 21/59
申请日 : 20200210
授权公告日 : 20201106
终止日期 : 20210210
申请日 : 20200210
授权公告日 : 20201106
终止日期 : 20210210
2020-11-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
