一种用以探测样品温度的取样勺
授权
摘要
本实用新型涉及一种用以探测样品温度的取样勺，该用以探测样品温度的取样勺包括取样杆和勺部，取样杆包括把手、取样杆中部和取样杆头部，取样杆头部与勺部连接，该取样勺还包括光栅光纤和普通光纤，光栅光纤与普通光纤连接，光栅光纤靠近取样杆头部，普通光纤靠近把手，光栅光纤通过固定部固定在取样杆中部。当样品中的热量从取样杆头部传递到取样杆中部时，取样杆中部受热伸长，带动固定在其上的光栅光纤伸长，引发光栅光纤的周期变化，从而导致在普通光纤端探测到的反射光谱变化。根据反射光谱变化，可以推导出样品温度。因为光栅光纤的反射光谱对光栅光纤的周期非常敏感，所以本实用新型具有灵敏度高的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种用以探测样品温度的取样勺
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020160239.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-10
授权号 ：
CN211373880U
授权日 ：
2020-08-28
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
金华伏安光电科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省金华市浦江县仙华街道东山路488号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020160239.6
主分类号 ：
G01K11/32
IPC分类号 ：
G01K11/32
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01K
温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件
G01K11/32
利用在光纤中的透射、散射或发光的变化
法律状态
2020-08-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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