发射通路测试系统

授权

摘要

本实用新型公开了一种发射通路测试系统，包括依次连接的测试主板、功分器、第一开关、衰减器、第二开关和信号分析仪，通过第一环形器连接于功分器的信号源，以及依次连接于第一开关和第二开关之间的第二环形器和滤波器，测试主板用于发送测试信号至功分器；信号源用于生成干扰信号；功分器用于叠加测试信号和干扰信号；衰减器用于衰减测试主板的功率；滤波器用于滤除测试信号中的主频率而仅传输谐波分量；第一环形器用于单向传输干扰信号；第二环形器用于单向传输测试信号；第一开关和第二开关通过python语言控制；信号分析仪用于分析输出测试结果。通过该测试系统，测试不同类型数据时，不另需人工设置连接仪器，测试效率较高。

基本信息

专利标题：

发射通路测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020173492.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-02-14

授权号：

CN210839588U

授权日：

2020-06-23

发明人：

尹柏林

申请人：

上海剑桥科技股份有限公司

申请人地址：

上海市闵行区陈行公路2388号8幢501室

代理机构：

上海弼兴律师事务所

代理人：

胡美强

优先权：

CN202020173492.5

主分类号：

H04B17/15

IPC分类号：

H04B17/15