一种传导发射的测试系统及方法
公开
摘要
本申请涉及一种传导发射的测试系统及方法，该测试系统包括：放置模块、采集模块、仿真模块，其中，放置模块，用于向已安装在放置模块的待测板卡供电，采集模块，用于采集待测板卡所连接线缆信号的特征数据，并向仿真模块发送线缆信号的特征数据，仿真模块，用于接收采集模块发送的线缆信号的特征数据，将线缆信号的特征数据输入仿真模型，得到电磁干扰信号的特征数据，并基于电磁干扰信号的特征数据得到测试结果，仿真模型为预先根据待测板卡的电路信息建立的模型，将EMC测试的介入时间由系统级测试提前至板卡级测试，极大地减少整改成本，且通过仿真模块对待测板卡进行仿真测试，减少了整改的测试费用。
基本信息
专利标题 ：
一种传导发射的测试系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578155A
申请号 ：
CN202210128456.0
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-02-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张虎
申请人 ：
苏州浪潮智能科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
代理机构 ：
北京市万慧达律师事务所
代理人 ：
张一帆
优先权 ：
CN202210128456.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G06F30/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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