本实用新型属于电子测试领域，具体涉及基于ATE测试机台的扩频时钟信号测试装置。本实用新型的方案中ATE测试机台通过总线接口连接被测芯片和扩频时钟测试电路板；被测芯片需要向扩频时钟测试电路板提供两路时钟，ATE测试机台将工作参数范围传递给扩频时钟测试电路板，扩频时钟测试电路板完成扩频时钟信号工作参数测量，与ATE测试机台提供的工作参数范围做比对，向ATE测试机台返回比对结果。本实用新型通过外扩的扩频时钟测试电路板实现了ATE测试机台扩频时钟测试功能，可以对各种数字器件的扩频时钟进行采样和分析，且硬件成本低，测试响应速度快，并且可以在一定程度上替代昂贵的台式测试仪器设备，有很强的可实施性。