一种电机驱动的IC测试装置
授权
摘要
本实用新型提出了一种电机驱动的IC测试装置，包括支撑架、电机、丝杆、丝杆螺母、测试基座，电机固定在支撑架的上端，丝杆和电机的驱动轴连接，丝杆螺母与丝杆螺纹连接，丝杆螺母上设有下压联接件，下压联接件下方设有导轨，下压联接件与导轨之间设有安装口，导轨位于测试基座的上方。本实用新型所提供的一种电机驱动的IC测试装置，其上的电机在下压到达固定值后，电机自动反转向上运动，如遇IC放置不到位或引脚变形而导致下压力超出固定值，电机会自动通知系统发出报警，从而防止了因下压力过大而导致产品弯脚、变形、破损等批量不良现象。
基本信息
专利标题 ：
一种电机驱动的IC测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020182044.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-18
授权号 ：
CN212111666U
授权日 ：
2020-12-08
发明人 ：
梁大明
申请人 ：
上海中艺自动化系统有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区郭守敬路498号14幢22301-642座
代理机构 ：
上海思牛达专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
丁剑
优先权 ：
CN202020182044.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01L5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-12-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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