用于薄膜开关按键测试的模具
授权
摘要

本实用新型提供的用于薄膜开关按键测试的模具,通过在下模板的上表面开设于薄膜开关相匹配的凹槽,并在位于下模板正上方的上模板上开设与所述薄膜开关上的按键相对应的通孔,并在所述通孔内安装击打机构,通过在上模板上设置直线轴承,并在下模板上设置与该直线轴承相匹配的导向杆,使所述导向杆穿设在所述直线轴承内,使得上模板能够沿靠近或远离下模板的方向移动,在上模板和下模板互相靠近时,击打机构的击打头能够在电磁阀壳体的作用下上下移动,从而对薄膜开关上的按键进行性能测试,该结构设计能够同时对薄膜开关上的多个按键进行性能测试,测试效率高,不易漏测。

基本信息
专利标题 :
用于薄膜开关按键测试的模具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020183202.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-02-19
授权号 :
CN211826374U
授权日 :
2020-10-30
发明人 :
章张健
申请人 :
苏州科德软体电路板有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴江市松陵镇九龙路355号
代理机构 :
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人 :
孙仿卫
优先权 :
CN202020183202.5
主分类号 :
G01R31/327
IPC分类号 :
G01R31/327  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/327
•电路断续器、开关或电路断路器的测试
法律状态
2020-10-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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