一种用于检测传感器治具平整度的装置
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摘要

本实用新型公开了一种用于检测传感器治具平整度的装置,包括基座,基座上端面的前侧设有工件放置单元,工件放置单元与基座滑动配合,基座上端面的后侧对应设有高度检测单元,工件放置单元用于固定夹紧待检测的传感器治具,高度检测单元用于检测工件放置单元上待检测的传感器治具上工件放置槽口G内侧缘H上端面的平整度。该装置的高度检测单元是固定的,即通过滑动工件放置单元实现移动待检测的传感器治具来实现对工件放置槽G内侧缘H上端面的平整度检测,避免了人为握持高度仪检测方式的不可控因素,保证了传感器治具上工件放置槽平整度检测结果的精度和可靠性,且避免了大量的人力资源浪费,且该装置结构简单,实施可行性高。

基本信息
专利标题 :
一种用于检测传感器治具平整度的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020183773.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-02-19
授权号 :
CN211373568U
授权日 :
2020-08-28
发明人 :
崔玮袁相定
申请人 :
江苏鼎宏自动化科技有限公司
申请人地址 :
江苏省常州市新北区蓝色港湾花园2幢-302号
代理机构 :
南京知识律师事务所
代理人 :
王昊
优先权 :
CN202020183773.9
主分类号 :
G01B21/30
IPC分类号 :
G01B21/30  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/26
••用于检测轮子的准直度
G01B21/30
用于计量表面的粗糙度或不规则性
法律状态
2020-08-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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