集成窄带滤波功能的硅探测器装置及上转换单光子探测器
授权
摘要
本实用新型涉及集成窄带滤波功能的硅探测器装置及上转换单光子探测器。该硅探测器装置可以包括G透镜3、集成滤波单元和硅探测器6。其中，G透镜3用于将光信号传输至集成滤波单元上；集成滤波单元用于对光信号进行滤波；硅探测器6用于对经滤波的光信号进行探测。并且，G透镜3、集成滤波单元和硅探测器6集成为一体。
基本信息
专利标题 ：
集成窄带滤波功能的硅探测器装置及上转换单光子探测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020188460.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-20
授权号 ：
CN211877233U
授权日 ：
2020-11-06
发明人 ：
蔺际超梁君生郑名扬谢秀平张强
申请人 ：
山东量子科学技术研究院有限公司;济南量子技术研究院
申请人地址 ：
山东省济南市高新区新泺大街1768号齐鲁软件园大厦B座7层
代理机构 ：
北京云嘉湃富知识产权代理有限公司
代理人 ：
程凌军
优先权 ：
CN202020188460.2
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42 G01J1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2020-11-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
