共轴对位检测光学系统

授权

摘要

一种共轴对位检测光学系统，属于自动化检测组装技术领域。该共轴对位检测光学系统包括上物料定位组件、下物料定位组件、立方棱镜、工业镜头和工业相机；立方棱镜由两直角棱镜粘结得到，两直角棱镜中至少一个在粘结面镀有半透半反膜；粘结面与工业镜头对应设置，工业镜头与工业相机连接；上物料定位组件包括上环形光源和上半透半反平面镜，下物料定位组件包括下环形光源和下半透半反平面镜；上半透半反平面镜与一直角棱镜上一方形平面相对设置，下半透半反平面镜与另一直角棱镜上一方形平面相对设置，两方形平面平行设置。本实用新型通过立方棱镜实现双光路的同轴定位检测，节省了物料定位时间，且提高了精度。

基本信息

专利标题：

共轴对位检测光学系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020191498.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-02-21

授权号：

CN211234321U

授权日：

2020-08-11

发明人：

李航宇宋喆男朱伟岸

申请人：

苏州灵猴机器人有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市吴中经济开发区越溪街道苏旺路328号12幢

代理机构：

苏州创元专利商标事务所有限公司

代理人：

范晴

优先权：

CN202020191498.5

主分类号：

G01B11/27

IPC分类号：

G01B11/27