一种三极管放大电路特性参数测量仪
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摘要
本发明涉及教学仪器设备技术领域，尤其涉及一种三极管放大电路特性参数测量仪，包括：微控制器、DDS、压控衰减器、输入阻抗网络、多路压控放大器、多路检波器、高精度ADC、高速ADC、输出阻抗网络；微控制器控制DDS产生电压信号，控制程控衰减器、输入阻抗网络和输出阻抗网络来调整被测三极管放大电路的输入与输出信号，并将上述三个模块输出信号送入多路程控放大器、高速ADC、多路检波器及高精度ADC获得A/D采样值，微控制器通过算法分析采样值从而得到被测电路特性参数并发至串口屏和网络模块。本发明能对放大电路的输入输出阻抗、放大倍数、频率响应、谐波失真等参数进行快速和精准的测量，并具有远程交互功能，可作为高校实验教学仪器使用。
基本信息
专利标题 ：
一种三极管放大电路特性参数测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020199236.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-24
授权号 ：
CN211856809U
授权日 ：
2020-11-03
发明人 ：
沈建国葛如阳褚学业郑锦玉
申请人 ：
浙江师范大学
申请人地址 ：
浙江省金华市迎宾大道688号
代理机构 ：
杭州中利知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
卢海龙
优先权 ：
CN202020199236.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-11-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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