测绘支架、测绘设备以及测绘系统

授权

摘要

本实用新型提供一种测绘支架、测绘设备以及测绘系统。测绘支架包括具有承载面的支架主体、紧固件、第一导向件以及至少一个第一磁性件，紧固件穿设在支架主体中，第一导向件设置在承载面上，第一磁性件设置于支架主体；其中，第一磁性件能够在测绘设备靠近测绘支架的过程中吸附测绘设备上的第二磁性件，以使得第一导向件与测绘设备上的第二导向件相配合；在第一导向件与第二导向件相配合时，紧固件能够穿出承载面至与测绘设备中的安装孔相连，以固定测绘设备。本实用新型利用第一磁性件与第二磁性件的磁性吸附力，以使第一导向件与测绘设备上的第二导向件相配合，将测绘设备装配到测绘支架上正确的位置，不需要复杂的安装过程，且不易滑落。

基本信息

专利标题：

测绘支架、测绘设备以及测绘系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020210410.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-02-25

授权号：

CN212056397U

授权日：

2020-12-01

发明人：

周道清

申请人：

上海易罗信息科技有限公司

申请人地址：

上海市闵行区浦江镇万芳路651号4单元2楼

代理机构：

北京中知法苑知识产权代理有限公司

代理人：

李明

优先权：

CN202020210410.X

主分类号：

F16M11/04

IPC分类号：

F16M11/04